Das Team um die Professoren Jörg Meyer und Christian Thomas hat am 6.Mai 2017 im Rahmen der festlichen Gala der Lippstädter Wirtschaft den Lippstädter Innovationspreises 2017 in der Kategorie Wissenschaft erhalten. Der Preis ist dotiert mit 2000 €, die von der Sparkasse Lippstadt zur Verfügung gestellt werden.
Nun fand die Scheckübergabe und detaillierte Vorstellung des Projekts "Multimodale Defektanalyse" im Rahmen eines gemeinsamen Termins an der Hochschule Hamm-Lippstadt statt. Dr. Ingo Lübben begrüßte zunächst die Anwesenden im Namen der Organisatoren des Innovationspreises und der Wirtschaftsgala.
Jürgen Riepe, Vorstandsvorsitzender der Sparkasse Lippstadt, erinnerte noch einmal an die Bewertungskriterien der Jury für den Preis: "Die Kriterien "Praktikabilität" und "Marktgängigkeit" waren der Jury sehr wichtig, dies überzeugt mich auch als Kaufmann, daher ist es mir eine wahre Freude, dieses Projekt auszuzeichnen."
Die Preisträger Prof. Meyer und Prof. Thomas freuten sich sehr über die Auszeichnung, denn es stecke sehr viel Engagement und Kreativität des gesamten Teams in dem Projekt. Auch die Kosten des notwendigen Instrumentariums seien erheblich. "Die eigentliche Innovation besteht in der intelligenten Verknüpfung dieser Geräte und der interdisziplinären Zusammenarbeit in diesem Bereich an der HSHL", erklärte Prof. Thomas.
Ziel der jeweiligen Untersuchungen sei das Auffinden von mikroskopisch kleinen Fehlern in komplexen Bauteilen. "Bei entsprechenden Anfragen aus der Industrie erstellen wir zunächst eine Aufnahme mit unserem Computertomographen (CT). Ähnlich wie in medizinischen Anwendungen werden so ca. 1800 Schnittaufnahmen des zu untersuchenden Objektes erstellt. Hierdurch erhalten wir erste sichere Hinweise auf vermutete Fehler im Produkt," erklärt Prof Meyer das Vorgehen.
Mit diesen Informationen erfolgt die nächste Untersuchung in einem sog. Lichtmikroskop. Nach der Detektion und Ortung des Fehlers werden diese Informationen im Rasterelektronenmikroskop (REM) noch genauer herausgearbeitet. Der große Vorteil dieses Vorgehens sei, dass man überhaupt in der Lage sei, Fehler im Nanometerbereich (= ein Millionstel Millimeter) (wieder-) zu finden und jeweils mit den unterschiedlichen Instrumenten zu betrachten. Mit den herkömmlichen Methoden allein sei daher der Erkenntnisgewinn deutlich geringer, erklärt Tekie Ogbazghi, Mitarbeiter der Hochschule, vor allem da man die Bauteile ohne die vorher ermittelten Informationen gar nicht so exakt präparieren könne.
Die Multimodale Defektanalyse biete die Möglichkeit, wirtschaftliche Drittmittelprojekte zu akquirieren. Dies sei besonders erfreulich, betonte Anja Richter (Geschäftsführerin des Zentrums für Forschungsmanagement der Hochschule Hamm-Lippstadt), da man Drittmittel zu Finanzierung zahlreicher Projekte einer Hochschule brauche. Studierende der Hochschule absolvierten Praktika in den Forschungslaboren oder beschäftigten sich im Rahmen ihrer Bachelorarbeiten mit Defektanalysen.
Pressekontakt: WFL Lippstadt GmbH, info@cartec.de, Tel. 02941/270101
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